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    • 2024

      2-16

      鍍層測厚儀通??梢詼y量各種類型的涂層,包括金屬、陶瓷和塑料等。儀器可以通過調整探測頭的參數來適應不同的測試需求,如涂層類型、材料特性和厚度范圍等。有些高級的儀器還具有自動校準和數據存儲功能,可以提高測試的準確性和效率。使用鍍層測厚儀時需要注意以下幾點:1.使用前的準備:在使用之前,仔細閱讀使用說明書,并確保儀器處于正常工作狀態。檢查測量頭和電纜連接是否牢固,電池電量是否充足。還應檢查儀器的校準日期,確保其準確性。2.確定適當的測量位置:在進行測量之前,應該確定測量位置,并檢查...

    • 2024

      2-2

      鍍層測厚儀是一種廣泛使用于工業領域的儀器,用于測量各種工件表面上的涂層的厚度。經過精確的測量,可以幫助工程師和質量控制人員確定涂層的質量,并確保其符合相關標準和要求。鍍層測厚儀使用原理基于電磁感應和磁性涂層表面磁場的相關性。它通常由一個探測頭和一個顯示屏組成。探測頭通過放置在待測試表面上,測量涂層內的磁場強度,然后將測量結果傳輸給顯示屏以顯示涂層厚度。該儀器通??梢詼y量各種類型的涂層,包括金屬、陶瓷和塑料等。儀器可以通過調整探測頭的參數來適應不同的測試需求,如涂層類型、材料特...

    • 2024

      1-28

      合金成份分析儀具有多種功能,如成分分析、鑒定分析、超微量分析、快速檢測等。它不僅可以對金屬材料進行元素分析,還可以應用于非金屬材料和有機物等領域。同時,合金成份分析儀還具有非破壞性、即時反饋、簡單易用、數據可追溯等優勢,廣泛應用于軍工、航天、鋼鐵、石化、電力、制藥等領域。合金成份分析儀主要基于X射線理論。X射線是一種電磁輻射,具有很高的能量和穿透能力,可以穿透物質并與其相互作用。合金成份分析儀通過激發樣品中的原子或離子,使其產生特定的發射光譜,從而確定樣品中各個元素的含量和化...

    • 2024

      1-16

      ROHS分析儀是一種用于檢測和分析電子電器產品中有害物質含量的儀器。ROHS是RestrictionofHazardousSubstances的縮寫,意為有害物質限制。該指令是歐盟于2002年頒布的一項法規,旨在限制和標準化電子電器產品中的有害物質的使用,以保護人類健康和環境安全。ROHS指令規定了六種關鍵的有害物質,包括鉛(Pb)、汞(Hg)、鎘(Cd)、六價鉻(Cr6+)、多溴聯苯(PBB)和多溴二苯醚(PBDE)的限制。這些物質在電子電器產品中使用過多或不當處理可能會對...

    • 2024

      1-3

      ROHS(RestrictionofHazardousSubstances)是指針對電子電氣產品所施行的一項環境保護法規。它最早起源于歐洲聯盟,旨在限制在電子電氣產品中使用有害物質的含量,以保護人類健康和環境。ROHS的第一版本于2002年實施,而ROHS2.0則是該法規的更新版本,于2011年開始實施。ROHS2.0法規具體規定了一系列對電子電氣產品中有害物質含量的限制,其中包括鉛、汞、鎘、六價鉻、聚溴聯苯(PBB)和聚溴二苯醚(PBDE)等物質。這些物質被認為對人類健康和...

    • 2023

      12-22

      EXF鍍層測厚儀用于金屬材料表面涂鍍層厚度的測量,一般常采用無損檢測方法。它采用X熒光分析技術,可測量各種金屬涂層的厚度,包括單層、雙層、多層、合金涂層等。EXF鍍層測厚儀主要是基于電磁感應法測量鍍層的厚度。當位于部件表面的探頭產生一個閉合的磁回路時,隨著探頭與鐵磁性材料間的距離的改變,該磁回路將不同程度的改變,引起磁阻及探頭線圈電感的變化。利用這一原理可以精確地測量探頭與鐵磁性材料間的距離,即鍍層厚度。EXF鍍層測厚儀的可靠性主要體現在以下幾個方面:1.測量精度高:EXF鍍...

    • 2023

      12-19

      合金成分分析儀是一種廣泛應用于材料科學領域的儀器設備。它主要用于測量和分析各種金屬合金中的元素組成,以確定其精確的成分。合金是由兩種或更多金屬元素的混合物制成的材料,具有改善原材料物理性能、提高耐腐蝕性和機械強度等特點。了解合金的成分是非常重要的,因為合金中的不同元素會對其性能產生重要影響。因此,通過該儀器可以得到詳細的成分信息,有助于對合金的性能、結構和用途進行準確評估。合金成分分析儀的工作原理基于光譜分析技術。它使用激光或電子束等光源照射樣品,并測量樣品發射的光譜信號。每...

    • 2023

      12-4

      X熒光光譜儀是一種用于分析材料組成和結構的儀器。它利用物質在受激的X射線照射下發射X熒光的特性,來獲得物質的光譜信息。X熒光光譜儀在材料科學、地質學、藥學等領域有著廣泛的應用。X熒光光譜儀的工作原理是基于X射線的與樣品相互作用的性質。當樣品受到高能X射線照射時,內部的原子會被激發,從原位去掉內層電子,并在對應能級上留下空位。為了穩定能級,外層的電子會落到內層空位上,并釋放出多余的能量。這些能量以特定的X射線頻率發射出來,即X熒光。通過檢測和分析這些發射的X射線,它可以確定樣品...

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